원자현미경(AFM)이란?원자현미경(AFM, Atomic Force Microscopy)은 나노미터 수준의 해상도를 제공하는 주사 탐침 현미경(Scanning Probe Microscopy, SPM) 중 하나로, 표면의 원자 구조를 직접 관찰하고 분석할 수 있는 도구입니다. AFM은 전자현미경(SEM, TEM)과 달리 시료의 전도성을 요구하지 않으며, 다양한 환경(공기, 액체, 진공)에서 측정이 가능합니다. AFM의 원리AFM은 매우 정밀한 탐침(Probe)을 이용하여 시료 표면을 주사하면서 표면의 형태(Topography)를 측정합니다. 기본 측정 원리 및 과정은 다음과 같습니다. 탐침과 시료 표면 간의 상호작용: AFM 탐침은 시료 표면과의 원자 간력(반데르발스 힘, 정전기력, 화학적 결합 등)에 의..
